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ERP提取的原理:平均疊加
ERP的特性:
淹沒:一個刺激誘發(fā)的ERP約2~10uv,容易淹沒在EEG中。
ERP的兩個恒定:1 潛伏期:刺激呈現(xiàn)后的0~1000ms之間;
2 波幅:ERP經(jīng)典圖示:負(fù)在上,正在下。(疊加把無規(guī)律的EEG過濾掉)
ERP平均疊加:只有同類型的刺激才能疊加。
信噪比的提高值與疊加次數(shù)有關(guān):n/√n=√n.疊加次數(shù)越多,信噪比越高。
導(dǎo)聯(lián)方法
國際10-20系統(tǒng):1 奇數(shù)在左邊,偶數(shù)在右邊
2 10-20:10%和20%的區(qū)分
電極導(dǎo)聯(lián):基本電極:記錄電極,參考電極,接地電極。(記錄電極和參考電極的電位差就是EEG/ERP)
1 單極導(dǎo)聯(lián)與雙極導(dǎo)聯(lián)
2 參考電極的問題
3 常用的參考電極:雙耳參考:乳突或耳垂
鼻尖:MMN常用
全腦平均
單耳:為了看左右半球是否有差別
偽跡排除與校正(不關(guān)心的成分:偽跡,噪音)
偽跡類型:
1 眼電/眼動:眨眼,水平眼動
2 肌電:頭動,身體動,口腔運(yùn)動
3 心電:心臟活動
4 出汗偽跡:出汗會導(dǎo)致皮膚電阻變化
5 50周市電干擾
6 電極移動
如何避免偽跡:
1 實(shí)驗(yàn)前排查,演示
2 指導(dǎo)語:盡量避免眨眼,頭動,身體動,口腔活動
如何排除和校正偽跡
1 直接排除(reject):比較嚴(yán)格,損失數(shù)據(jù)
2 校正(correction)適用于眨眼眼電EOG,挽救數(shù)據(jù)的方式
Ocular artifact 校正的基本原理
平均偽跡逆行分析方法:
Step1 找到眼電的最大值
Step2 識別眼電,構(gòu)建眼電平均偽跡,計算傳遞系數(shù)
Step3 從EEG中減去EOG
校正后的EEG=原始EEG-bxEOG
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